IC芯片熱流儀用于車規級芯片高低溫測試

　　IC芯片熱流儀是應用于芯片、微電子器件、集成電路、光通訊中等特性分析、高低溫溫變測試、溫度沖擊測試、失效分析等可靠性試驗，隨著汽車行業的發展，IC芯片熱流儀在車規級芯片高低溫測試中也是有一定的應用。

　　在車規級芯片可靠性測試方面，冠亞制冷IC芯片熱流儀有著不同于傳統高低溫箱的優勢:溫度變化速率快，實時監測待測元件真實溫度，亦可隨時調整沖擊氣流溫度，可針對PCB電路板上眾多元器件中的某一單個IC，單獨進行高低溫沖擊，而不影響周邊其它器件。

　　車規級IC芯片熱流儀應用在汽車行業芯片測試過程中，按照要求的溫度范圍進行搭配模擬和混合信號測試儀，在電工作下檢查不同溫度下所涉及到的元器件或模塊各項功能是否正常。冠亞制冷車規級IC芯片熱流儀溫度范圍比較寬，可以根據客戶要求進行選擇不同溫度范圍不同型號的設備，通過使用該設備，大幅提高工作效率，并能及時評估研發過程中的潛在問題，使產品符合汽車電子產品標準!

　　冠亞制冷車規級IC芯片熱流儀高低溫測試方法：

　　1、將被測芯片或模塊放置在測試臺上，將IC芯片熱流儀的隔熱風罩壓在相應測試臺上(產品放在測試臺中)；

　　2、設置需要測試的溫度范圍；

　　3、啟動IC芯片熱流儀，將干燥潔凈的壓縮空氣通入高低溫測試機內部制冷機進行低溫處理，然后空氣經由管路到達加熱頭進行升溫，氣流通過隔熱風罩進入測試腔.隔熱風罩中的溫度傳感器可實時監測當前腔體內溫度；

4、在汽車電子芯片測試平臺下，IC芯片熱流儀快速升降溫至要求的設定溫度，實時檢測車規芯片在設定溫度下的在電工作狀態等相關參數，對于產品分析，工藝改進以及批次的定向品質追溯提供確實的數據依據。